CMI做为世界级品牌在PCB及电镀行业已形成一个行业标准，90%以上的大型企业在使用CMI系X-RAY机做为测量镀层厚度的行业工具
正业科技股份有限公司作为牛津仪器在中国的总代理，具有很大的价格优势和完善的售前，售后服务体系。
膜厚仪或CMI900/950系列X射线荧光测厚仪采用X射线荧光无损检测的一种方式，精确地检测出多层镀层厚度（镀液、镀锡、镀银等）
X射线荧光测厚仪CMI900为牛津推出的一款非常实用的分析多层镀层厚度·合金牌号及成份·镀液的电子测厚仪。
用 途：CMI900用于分析多层镀层厚度成 ·合金牌号及成份·镀液
特 征：
1、X射线荧光镀层厚度及 材料组成测量
2、工业质量控制
3、电子：可焊性 电气连接性 表面处理
4、金属表面处理：耐蚀性 耐磨性/耐热性 装饰性处理
5、合成分类：成 分鉴定与合金牌号
X射线荧光测厚仪技术参数：
CMI900 X射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。
B ：精确度领先于世界，精确到0。025mil (相对与标准片)
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米
样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1 程控样品台：XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：
1 全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品最大高度为150mm，XY 轴程控移动范围为 300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。
2 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品最大高度为270mm。
3 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品最大高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。