价 格:4.00 元
产 地:扬州
厂 家:扬州市广陵区鸿腾电器厂
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发布日期:2010/1/25 14:15:17
IC集成电路老化测试座(DIP封装)
该系列插座适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯
产品型号及规格;
IC-8J~IC-64J
主要技术指标; 间距;2.54mm 环境温度;-55℃—+155℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;DC500V 单脚插入力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;1um镍2um金 插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次
TO-220晶体管老化测试
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贴片电路老化测试夹具
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可控硅模块老化测试夹
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IC集成电路老化测试座
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晶体管老化测试座
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接插件 连接器 老化测
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