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1.电学指标
A-K 极间加压范围: ±100mV--2000V
A-K 极间测流范围: ±100nA--49.90A
A-K 极间加流范围: ±100nA--49.90A
A-K 极间测压范围: ±100mV--2000V
G-K 极间加压范围: ±100mV--20V
G-K 极间测流范围: ±100nA--10A
G-K 极间加流范围: ±100nA--10A
G-K 极间测压范围: ±100mV--20V
最大电压分辨率: 5mV
最大电流分辨率: 1nA
A-K 极间加/测压精度: 1%+10mV
A-K 极间加/测流精度: 1%+10nA+20pA/V
G-K 极间加/测压精度: 1%+5mV
G-K 极间加/测流精度: 1%+10nA+20pA/V
电参数测试重复性： 2%
2. 可测试器件（DUT）种类
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序号
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类型名称
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符号
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1
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二极管
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DIODE
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2
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稳压（齐纳）二极管
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ZENER
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3
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晶体管
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TRANSISTOR（NPN/PNP）
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4
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单向可控硅（普通晶闸管）
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SCR
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5
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双向可控硅（双向晶闸管）
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TRIAC
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6
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金属-氧化物-半导体场效应管
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MOSFET（N-CH/P-CH）
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7
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结型场效应管
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J-FET（N-CH/P-CH）
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8
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绝缘栅双极大功率晶体管
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IGBT（N-CH/P-CH）
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9
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达林顿阵列器件
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DARLINGTON
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10*
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光电耦合器
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OPTO-COUPLER（NPN/PNP）
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11*
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光电逻辑器件
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OPTO-LOGIC
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12*
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光电开关管
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OPTO-SWITCH
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13*
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固态过压保护器
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SSOVP
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14*
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硅触发开关
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STS，SBS
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共计14大类。
* 需要另行定制专门的测试适配器和测试夹具。
3.技术特征
该系统产品为供方引进的合作技术项目，功率电源等方面采用新的航天技术做了改进，各项技术指标同于进口产品，测试稳定性、可靠性高于进口产品，故障率明显低于进口产品。代表了目前国际先进技术水平。具有下面特征：
* 采用嵌入式计算机，运行速度快，扩展能力强，实现脱机运行；
* 采用高速16位并行D/A、A/D和专用并行内部总线技术设计，速度快、稳定性高；
* 采用脉冲法测试参数、脉宽可为300μS，占空比可达1/3000以上；
* 采用多级开尔文技术，系统稳定性高，测试结果准确，重复性好；
* 在线系统状态、测试结果、故障定位显示功能，使得使用方便简单；
* 完整的系统自检、校准能力，10分钟将系统故障定位到元件级，30分钟完成系统精度检测；
* 完整的软、硬件升级/扩展功能；
* DUT引腿接触性测试、加压限流能力、A-K短路保护、过压/过流保护等能力，保证了系统安全，有效防止DUT损伤；
* 关键元器件均采用进口原装，精密电阻采用国产军级，全部采用进口原装湿型继电器，装焊工艺现已采用航天工艺线代工，保证系统可靠性高于进口产品；
* 二极管极性自动判别功能，不需人工关注极性，提高操作速度，减少失误；
* 填表式编程，3分钟内即可完成一个新器件编程；
* 混合参数编程方式，使电参数测试编程不受器件类别的限制，支持技术人员实现分析编程；
* 单参数测试延时功能，用户可根据需要选择参数测试延迟时间，增加参数测试稳定性；
* 提供系统内部流性负载、阻性负载选择和外部负载接口，最大极限地满足测试需求；
* 计算步功能，允许将任意测试程序步的测试结果列式计算，形成新的参数，方便新参数定义；
* 分类、分档功能，以便通过编程确定DUT的同异性，测试后自动分类、分档、配对等，提高
DUT使用价值；
* 单步测试功能，用于对单个参数进行测试，同时将测试结果值在前面板上显示，方便在线分析；
* 完整的其它后测试处理能力；
* 所有测试夹具进行了误差补偿和噪声抑制设计。
注：1）上述专有技术特征可最大限度保证系统使用中的机器、人身、DUT安全；
2）关于振荡的拟制，尽管在系统、选件本身,包括测试夹具已经采取了多项去噪、抑制措施,可以满足绝大部分类别器件的绝大部分电参数测试的精度和稳定性,但在测试一些微小功率甚高频器件(如高频管的Hfe参数、J-FET的IGSS参数)、以及特大功率器件(如IGBT的VCESAT @ Ice≥200A参数)时,由于DUT的固有特征,极容易引入振荡,需要根据实际情况通过实验对测试夹具进行专门补偿设计,以便消除振荡,满足参数测试要求。
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